Marques, C., Meinhardt, C. e Butzen, P. 2020. Impacto de falhas transientes em memórias SRAM em nanotecnologia. Revista Eletrônica de Iniciação Científica em Computação. 18, 3 (nov. 2020). DOI:https://doi.org/10.5753/reic.2020.1751.