MARQUES, C.; MEINHARDT, C.; BUTZEN, P. Impacto de falhas transientes em memórias SRAM em nanotecnologia. Revista Eletrônica de Iniciação Científica em Computação, [S. l.], v. 18, n. 3, 2020. DOI: 10.5753/reic.2020.1751. Disponível em: https://journals-sol.sbc.org.br/index.php/reic/article/view/1751. Acesso em: 7 out. 2024.