Marques, C., C. Meinhardt, e P. Butzen. “Impacto De Falhas Transientes Em memórias SRAM Em Nanotecnologia”. Revista Eletrônica De Iniciação Científica Em Computação, vol. 18, nº 3, novembro de 2020, doi:10.5753/reic.2020.1751.