Marques C, Meinhardt C, Butzen P. Impacto de falhas transientes em memórias SRAM em nanotecnologia. REIC [Internet]. 15º de novembro de 2020 [citado 30º de janeiro de 2026];18(3). Disponível em: https://journals-sol.sbc.org.br/index.php/reic/article/view/1751